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Instrument Systems 将于美国旧金山举办的 SPIE AR|VR|MR 2026 以及 SPIE Photonics West 2026 展会之上展示其最新研发的工具。
届时该公司将隆重呈现全新的相机系统 LumiTop X30 AR 以及一系列先进的光学测量解决方案。
据该公司透露此次展会的核心亮点在于推出全新的 LumiTop X30 AR。
这是一款用于精准表征 AR 眼镜中近眼显示器Near - Eye Displays的先进相机系统。
该系统巧妙融合了高空间分辨率与 LumiTop X 概念借助基于光谱辐射计Spectroradiometer的颜色校准技术能够实现精确的亮度与色彩测量。
它可提供有关虚拟图像质量的详尽信息涵盖清晰度Sharpness、对比度Contrast、失真Distortion以及均匀性Uniformity等方面故而极为适用于研发下一代 AR 光学系统和显示器的 RD 实验室。
除了发布 LumiTop X30 AR 这一重磅产品之外该公司还将展示以下系统LumiTop X150 高分辨率成像系统具备高达 600 MPx 的分辨率可用于精确分析 MicroLED 显示器包括其像素和子像素结构。
LumiTop AR/VR 测量系统拥有高达 120° 的视场Field of View用于评估 VR 耳机并且支持可调节的瞳孔尺寸、对焦设置和视角。